- Sections
- G - Physique
- G01R - Mesure des variables électriques; mesure des variables magnétiques
- G01R 31/319 - Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
Détention brevets de la classe G01R 31/319
Brevets de cette classe: 982
Historique des publications depuis 10 ans
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80
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63
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62
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80
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66
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94
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98
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102
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82
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26
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| 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Advantest Corporation | 1939 |
184 |
| Teradyne, Inc. | 579 |
53 |
| ROHDE & Schwarz GmbH & Co. KG | 1831 |
35 |
| Texas Instruments Incorporated | 19376 |
24 |
| Tektronix, Inc. | 636 |
24 |
| Samsung Electronics Co., Ltd. | 131630 |
21 |
| Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
20 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
19 |
| Intel Corporation | 45621 |
15 |
| Qualcomm Incorporated | 76576 |
13 |
| Micron Technology, Inc. | 24960 |
12 |
| Anritsu Corporation | 380 |
11 |
| Infineon Technologies AG | 8189 |
10 |
| STMicroelectronics S.r.l. | 3693 |
10 |
| Analog Devices, Inc. | 3475 |
10 |
| Changxin Memory Technologies, Inc. | 4732 |
10 |
| SK Hynix Inc. | 11030 |
9 |
| Aehr Test Systems | 68 |
9 |
| Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | 58 |
9 |
| Keithley Instruments, LLC | 72 |
8 |
| Autres propriétaires | 476 |